透射電子顯微鏡、透射電鏡、TEM、形貌觀察、EDS、SAED、測(cè)試狗、材料分析測(cè)試、檢驗(yàn)檢測(cè)、材料
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透射電子顯微鏡/透射電鏡/TEM/形貌觀察/EDS/SAED/測(cè)試狗/材料分析測(cè)試/檢驗(yàn)檢測(cè)/材料

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品牌 測(cè)試狗科研服務(wù)
檢測(cè)類型 形貌分析
貨號(hào) 01x
可以測(cè)量形態(tài) 固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;
原子間距精確度 0.01 ?
檢測(cè)下限 最低可達(dá)幾個(gè)ppm
分辨率 小于60 pm
商品介紹

詳情請(qǐng)移步官網(wǎng)(www.ceshigo.com)查看更多


項(xiàng)目簡(jiǎn)介:

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure,XAFS)也叫做X射線吸收譜(X-ray absorption spectroscopyXAS),是一種基于同步輻射光源的,研究材料局域原子、電子結(jié)構(gòu)的一種有力的工具。XAFS廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域,主要是基于以下優(yōu)點(diǎn):

1、不依賴于長(zhǎng)程有序結(jié)構(gòu),可用于非晶態(tài)材料的研究;

2、不受其它元素的干擾,可對(duì)同一材料中不同的元素分別研究;

3、不受樣品狀態(tài)的影響,可以測(cè)量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;

4、對(duì)樣品無破壞,可以進(jìn)行原位測(cè)試;

5、能獲得高精度的配位原子的種類、配位數(shù)以及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù),一般認(rèn)為原子間距的精確度可達(dá)0.01 ?;

6、檢測(cè)下限低,最低可達(dá)幾個(gè)ppm。 

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公司名稱 測(cè)試狗·科研服務(wù)
聯(lián)系賣家 代經(jīng)理
手機(jī) 쑥쑢쑡쑢쑥쑣쑡쑡쑦쑦쑝
網(wǎng)址 http://www.ceshigo.com
地址 四川省成都市
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