xrf熒光光譜儀WD-XRF光譜儀
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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
產(chǎn)地 日本
是否進(jìn)口 進(jìn)口
品牌 理學(xué)
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
產(chǎn)品名 波長色散X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 7358592
商品介紹

我國學(xué)者對不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新??v觀30年來的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。


基本參數(shù)法已用于常規(guī)分析。在定量分析過程中,進(jìn)行基體校正時(shí),在20世紀(jì)80年代初商用軟件配有經(jīng)驗(yàn)影響系數(shù)法校正的程序,今天各個(gè)廠家生產(chǎn)的儀器配置了在線基本參數(shù)法程序或可變理論影響系數(shù)法程序,當(dāng)試樣的物理化學(xué)形態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)樣品相似的情況下,使用少量標(biāo)準(zhǔn)樣品甚至一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品,也可以獲得的定量分析結(jié)果。






專業(yè)化的儀器和應(yīng)用軟件發(fā)展迅速。各個(gè)廠家依據(jù)用戶的需要開發(fā)出多種軟件包,如分析多層膜分析軟件、地質(zhì)樣品中的痕量元素測定軟件、氧化物分析軟件、油品中雜質(zhì)分析軟件、高溫合金和有色金屬分析軟件等,這些軟件提供經(jīng)過優(yōu)化的分析方法,并配有適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)樣品。在絕大多數(shù)情況下可保證獲得準(zhǔn)確的分析結(jié)果。




理學(xué)Micro-Z ULS是適用于石油基燃料的硫分析,帶有一個(gè)更低的0.3 ppm硫的檢測限(LLD)。 在一個(gè)真空環(huán)境中使用堅(jiān)固的器件和一個(gè)特殊設(shè)計(jì)的雙曲RX-9分析晶體,Micro Z ULS進(jìn)行連續(xù)的高靈敏度測定。

ASTM D2622性能用于初學(xué)用戶

為初學(xué)用戶進(jìn)行特殊設(shè)計(jì),可通過簡易操作界面進(jìn)行從校正到例行分析的所有操作。該分析儀可使用任意標(biāo)準(zhǔn)墻壁電源插座供電。





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公司名稱 廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司
聯(lián)系賣家 丘先生 (QQ:402636448)
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網(wǎng)址 http://www.yidekeyi.com
地址 廣東省廣州市