我國學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

專業(yè)化的儀器和應(yīng)用軟件發(fā)展迅速。各個(gè)廠家依據(jù)用戶的需要開發(fā)出多種軟件包，如分析多層膜分析軟件、地質(zhì)樣品中的痕量元素測定軟件、氧化物分析軟件、油品中雜質(zhì)分析軟件、高溫合金和有色金屬分析軟件等，這些軟件提供經(jīng)過優(yōu)化的分析方法，并配有適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)樣品。在絕大多數(shù)情況下可保證獲得準(zhǔn)確的分析結(jié)果。

日本理學(xué)同時(shí)型波長色散X射線熒光光譜儀，從輕元素到重元素的大容許功率、高精度元素分析！

Simultix 15

Simutix14是人氣的多道同時(shí)型波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀?；?0多年積累的經(jīng)驗(yàn)，Simultix14可用的全自動(dòng)系統(tǒng)以滿足當(dāng)下分析需要的高靈敏度、高通量和多功能性。

產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計(jì)的理學(xué)Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀（WDXRF），擁有一個(gè)新的特征，可以同時(shí)測定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個(gè)更好的凈峰強(qiáng)度測定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。

卓越的光學(xué)器件用于可靠的硫分析

理學(xué)Micro-Z ULS是適用于石油基燃料的硫分析，帶有一個(gè)更低的0.3 ppm硫的檢測限（LLD）。 在一個(gè)真空環(huán)境中使用堅(jiān)固的器件和一個(gè)特殊設(shè)計(jì)的雙曲RX-9分析晶體，Micro Z ULS進(jìn)行連續(xù)的高靈敏度測定。

ASTM D2622性能用于初學(xué)用戶

為初學(xué)用戶進(jìn)行特殊設(shè)計(jì)，可通過簡易操作界面進(jìn)行從校正到例行分析的所有操作。該分析儀可使用任意標(biāo)準(zhǔn)墻壁電源插座供電。