項目簡介：

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（X-ray absorption fine structure，XAFS）也叫做X射線吸收譜（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一種基于同步輻射光源的，研究材料局域原子、電子結(jié)構(gòu)的一種有力的工具。XAFS廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域，主要是基于以下優(yōu)點：

1、不依賴于長程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；

2、不受其它元素的干擾，可對同一材料中不同的元素分別研究；

3、不受樣品狀態(tài)的影響，可以測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；

4、對樣品無破壞，可以進行原位測試；

5、能獲得高精度的配位原子的種類、配位數(shù)以及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù)，一般認(rèn)為原子間距的精確度可達0.01 ?；

6、檢測下限低，最低可達幾個ppm。

XAFS數(shù)據(jù)解析方面，可提供以下數(shù)據(jù)及服務(wù)： 

1、XANES部分圖譜，提供價態(tài)、初步結(jié)構(gòu)的定性分析；

2、EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數(shù)和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析；

3、wavelet圖譜，作為EXAFS擬合的進一步證據(jù)，并用小波炫圖提高數(shù)據(jù)分析“逼格”；

4、文章實驗部分及數(shù)據(jù)討論部分的修改，檢查對結(jié)果的描述是否準(zhǔn)確，是否有偏差；

5、幫忙回復(fù)審稿意見中關(guān)于XAFS的問題，提供中文回答。