日立紫外可見分光光度計(jì)U-4100詳細(xì)介紹
日立U-4100型紫外可見分光光度計(jì)是高端產(chǎn)品，可實(shí)現(xiàn)足以令“著名日立光度計(jì)品牌”自豪的精度。該產(chǎn)品對(duì)于在實(shí)際固體樣品檢測方面需要高質(zhì)量數(shù)據(jù)的用戶，例如半導(dǎo)體開發(fā)、光學(xué)樣品和新材料領(lǐng)域的用戶而言都是不錯(cuò)的選擇。

該系統(tǒng)的陣容可滿足各種波長和各種尺寸待測樣品的檢測需求，并可通過結(jié)合各種特殊的附件來滿足不同的分析需要，例如用于檢測透過率和反射率的組件，以及可以極低的噪音水平在紫外區(qū)檢測的積分球。

日立紫外可見分光光度計(jì)U-4100儀器特點(diǎn)
U-4100型紫外可見分光光度計(jì)在檢測固定樣品方面性能十分出色，可精確地檢測極化屬性。此圖顯示的是一束YAG激光在入射角為45°時(shí)所檢測的反射率，體現(xiàn)了以微加工機(jī)為鏡面產(chǎn)生的S-偏光和P-偏光光線的反射特性。兩種偏光的反射率在1064nm時(shí)均接近100％。
在光學(xué)元件的制造中，獲得精確的偏光特性指標(biāo)十分重要。

日立紫外可見分光光度計(jì)U-4100技術(shù)參數(shù)