WCu35鎢銅板棒帶套鎢合金銅-綠興高耐磨耐腐蝕廠家出貨
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WCu35鎢銅板棒帶套鎢合金銅 綠興高耐磨耐腐蝕廠家出貨
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鎢銅粉末本身的性能將會直接影響到鎢銅制品的最終使用性能,因此對鎢銅粉末原料的測試就顯得至關(guān)重要。目前來說,激光粒度分析、透射電鏡分析以及熱性能分析是主要的幾種檢測手段,接下來我們將從理論及工作原理兩個方面對這幾種性能檢測方法進行簡單的介紹和分析。
激光粒度分析
其主要使用到的儀器就是激光粒度儀,它是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(即散射譜)來對顆粒的大小進行分析。該方法結(jié)合了夫瑯禾費以及米氏散射理論,當一束波長為λ的激光照射在一定粒度的球形小顆粒上時,光束遭遇到阻擋,會發(fā)生衍射和散射兩種現(xiàn)象。一般來說,當顆粒粒徑小于10λ時,以散射現(xiàn)象為主,而當粒徑大于或等于10λ時,以衍射現(xiàn)象為主。目前使用較為廣泛的激光粒度分析儀通常以500-700nm波長的激光作為光源,對于粒徑在5μm以上的顆粒分析結(jié)果相對比較準確。而對于粒徑小于5μm的顆粒則通過數(shù)學上的米氏理論進行修正,這也就對亞微米或納米級的顆粒的測量上有了一定的誤差。此外,激光粒度分析的理論模型是建立在球形顆粒且單分散條件上的,因而對于顆粒的形狀以及粒徑的分布都會對粒度分析的最終結(jié)果產(chǎn)生較大的影響。顆粒形狀越不規(guī)則、粒徑分布越寬,所得出的誤差也就越大。對于鎢銅復合粉末來說,用水作為分散劑,加入無水乙醇進行研磨,經(jīng)過30分鐘的超聲波清洗后分散在蒸餾水中進行粒度分析。
透射電子顯微鏡分析
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,TEM)是一種高倍高分辨率的顯微鏡,相比于一般的光學顯微鏡,其以電磁場作為透鏡,被廣泛運用于超細顆粒、團聚體以及納米級材料的觀察與分析。另外,由于電子束的穿透力很弱,因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機(ultra-microtome)制作。電子顯微鏡的放大倍數(shù)最高可達近百萬倍。對于鎢銅粉末來說,若樣品厚度大于100nm則需要進行研磨并將粉末樣品溶解在無水乙醇中,在進行超聲波清洗后將分散好的懸浮液滴滴在帶有碳膜的電鏡銅網(wǎng)上,干燥后進行粉末形貌的觀察。