廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀分類

分光原理分類

根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀, 衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.

光學(xué)多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采 用光子探測(cè)器(CCD)和計(jì)算機(jī)控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理, 存儲(chǔ)諸功能于一體使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,使用OMA分析光譜,測(cè)盆準(zhǔn)確迅速,方便, 且靈敏度高,響應(yīng)時(shí)間快,光譜分辨率高,測(cè)量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由 打印機(jī),繪圖儀輸出.

光電直讀光譜儀特點(diǎn)

測(cè)控系統(tǒng)采用單板機(jī)測(cè)量與控制，與上位計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，提高了運(yùn)行速度。

通過計(jì)算機(jī)軟件來調(diào)整每個(gè)通道的光電倍增管負(fù)高壓，通道負(fù)高壓分8檔調(diào)整，從而大大地提高通道的利用率和分析譜線的z佳線性范圍在分析不同材質(zhì)中的采用，減少了通道的采用數(shù)量，降低了成本。

可用于多種基體分析： Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等。

采用純中文Windows系統(tǒng)下的操作軟件，操作簡(jiǎn)單易懂。

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直讀光譜儀的誤差來源

一、偶然誤差的來源

與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。因?yàn)楣怆姽庾V分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性，導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生偶然誤差。主要原因如下：

直讀光譜儀

(1)熔煉過程中帶入夾雜物，產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。

(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。

火花直讀光譜儀主要特點(diǎn)

儀器特點(diǎn)：

1． 使用靈活，性能可靠，穩(wěn)定性好。

2． 儀器檢測(cè)限低，分析精密度高，結(jié)果準(zhǔn)確。

3． 分析速度快(20～30秒)，運(yùn)行成本低。

4． 維護(hù)方便，故障率低。

5． 抗環(huán)境干擾能力強(qiáng)。

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營業(yè)務(wù)有：金屬化學(xué)成分分析儀，全譜直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，金屬成分分析儀，進(jìn)口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀銷售，火花直讀光譜儀品牌，火花直讀光譜儀型號(hào)等等。

光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項(xiàng)

光電直讀光譜儀是指應(yīng)用光電轉(zhuǎn)換接收方法作多元素同時(shí)分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

光電直讀光譜儀是黑色金屬及有色金屬（鐵基、鋁基、銅基、鎳基等）材料中化學(xué)元素成份快速、定量的分析儀器。廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、鑄造、金屬、科研等領(lǐng)域，進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。

光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意以下事項(xiàng)：

一、光源發(fā)生器的選擇

為進(jìn)行多種樣品和元素的分析，需要各種發(fā)生器。同時(shí)測(cè)定多種元素時(shí)，根據(jù)測(cè)定范圍選一種激發(fā)方法。

火花光源比較適合于同時(shí)測(cè)定多種元素，如金屬中的合金成分和雜質(zhì)元素的定量分析。電弧光源適用于測(cè)定樣品中的痕量成分。低壓電容放電光源使電路參數(shù)變化達(dá)到從電弧到火花階段性變化，可用于多目的的分析。

對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素

對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素是哪些呢？直讀光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強(qiáng)度為依據(jù)的，影響光譜儀射線強(qiáng)度的因素會(huì)影響分析的準(zhǔn)確度，以下是主要兩大影響因素：

一、基體效應(yīng)

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)i效應(yīng)。

吸收效應(yīng)包括基體對(duì)入射X射線的吸收及對(duì)熒光X射線的吸收。因?yàn)橛蒙渚€激發(fā)樣品時(shí)，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中，這兩種X射線都會(huì)因基體元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱，射線減弱會(huì)影響對(duì)分析元素的激發(fā)效率。