北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
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主營(yíng)產(chǎn)品: 沖擊電壓試驗(yàn)儀, 耐電弧測(cè)試儀, 數(shù)字電荷儀, 表面體積電阻率測(cè)試儀, 納米測(cè)試儀, 海綿壓陷硬度測(cè)試儀, 納米犬分析測(cè)試儀, 多功能精密電池測(cè)試分, 高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
華測(cè)等離子增強(qiáng)型原子層沉積設(shè)備
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Beneq熱型/等離子增強(qiáng)型原子層沉積設(shè)備
一、等離子增強(qiáng)型原子層沉積設(shè)備產(chǎn)品簡(jiǎn)介
常規(guī)原子層沉積是通過(guò)將氣相前驅(qū)體脈沖交替地通入反應(yīng)器并在沉積基片上自限制式化學(xué)吸附并在一定溫度下反應(yīng)而形成單原子層沉積膜的一種方法。不斷重復(fù)這種自限制反應(yīng)就形成所需要厚度的薄膜。在膜層的均勻性、保形性、階梯覆蓋率以及厚度控制等方面都具有明顯的優(yōu)勢(shì)。等離子體增強(qiáng)原子層沉積(PE-ALD)是對(duì)ALD技術(shù)的擴(kuò)展,通過(guò)等離子體的引入,產(chǎn)生大量活性自由基,增強(qiáng)了前驅(qū)體物質(zhì)的反應(yīng)活性,從而拓展了ALD對(duì)前驅(qū)源的選擇范圍和應(yīng)用要求,縮短了反應(yīng)周期的時(shí)間,同時(shí)也降低了對(duì)樣品沉積溫度的要求,可以實(shí)現(xiàn)低溫甚至常溫沉積,適合于對(duì)溫度敏感材料和柔性材料上的薄膜沉積。另外,等離子體的引入可以進(jìn)一步的去除薄膜中的雜質(zhì),可以獲得較低的電阻率和較高的薄膜致密度等。此外,等離子體還可以對(duì)反應(yīng)腔室進(jìn)行清洗以及對(duì)基片進(jìn)行表面活化處理等。
二、等離子增強(qiáng)型原子層沉積設(shè)備適用范圍
具備熱ALD和PE-ALD兩種工作模式,即采用加熱或等離子輔助增強(qiáng)模式,可沉積多種超薄、高保形性、高臺(tái)階覆蓋能力的高質(zhì)量介質(zhì)薄膜,包括金屬氧化物和金屬氮化物,厚度可實(shí)現(xiàn)原子層的控制(1 atom-layer/cycle)。
該設(shè)備可沉積薄膜包括:氧化鋁(Al2O3),氮化鋁(AlN),氧化硅(SiO2),氮化硅(Si3N4),氧化鉿(HfO2),氮化鉿(Hf3N4),氧化鈦(TiO2),氧化鉭(Ta2O5),氮化鉭(TaNx)。
上述薄膜典型應(yīng)用舉例:高介電絕緣柵、鈍化層、保護(hù)層、金屬阻擋層(勢(shì)壘層)等。
三、等離子增強(qiáng)型原子層沉積設(shè)備技術(shù)參數(shù)
- 可以加工的襯底尺寸:8 英寸、6英寸、4英寸、3英寸以及破片
- 鍍膜均勻性:8英寸襯底均勻性?xún)?yōu)于±1%(熱法), ±2%(等離子體增強(qiáng)法)
- 工藝溫度及溫度控制精度:室溫?500°C,沉積溫度控制精度±1°C,反應(yīng)腔溫度的控制精度在±2°C
- 傳送模式:自動(dòng)Loadlock傳送系統(tǒng)
應(yīng)用案例
ALD可實(shí)現(xiàn)絕緣柵介質(zhì)(高介電常數(shù))、鈍化層介質(zhì)、保護(hù)層介質(zhì)、金屬阻擋層介質(zhì)等多種材料原位生長(zhǎng), 可實(shí)現(xiàn)高度保形性鍍膜: