儀涵科技(北京)有限公司
店齡4年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市石景山區(qū)
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儀涵科技(北京)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 奧林巴斯手持式XRF分析儀, 手持式分析儀
儀涵科技-奧林巴斯-TERRA射線式便攜XRD分析儀(BTX-II)X射線衍射儀
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店齡4年 企業(yè)認(rèn)證
聯(lián)系人
趙海明
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所在地區(qū)
北京市石景山區(qū)
主營(yíng)產(chǎn)品
X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史
X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)
BTX PROFILER的XRD技術(shù)來(lái)自于美國(guó)宇航局NASA埃姆斯實(shí)驗(yàn)室,該技術(shù)曾被美國(guó)宇航局火星計(jì)劃"好奇號(hào)"、"漫游者"使用過(guò);XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶,兩大技術(shù)結(jié)合,可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息,可減少實(shí)驗(yàn)成本,節(jié)約時(shí)間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨(dú)立的X射線源和探測(cè)器,以快速獲取優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)信息,XRD部分使用CCD二維面探測(cè)
器,該探測(cè)器可以獲取整個(gè)德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息,XRF部分則采用SDD探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)更低的檢測(cè)下限和更高的靈敏度。
XRD和XRF組合技術(shù)
①XRD微聚焦X射線管
②XRD X射線束
③XRD準(zhǔn)直器 ④XRD樣品
⑤CCD探測(cè)器 ⑥XRF X射線管
⑦濾光輪 ⑧XRF X射線束
⑨XRF樣品 ⑩ XRF SDD探測(cè)器
用于化合物分析的二維XRD
XRD采用衍射幾何技術(shù),使用能量敏、
位敏的二維CCD面探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)了儀器的小
型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)
1、探測(cè)器收集整個(gè)德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)
臺(tái)式機(jī)只能收集德拜環(huán)一個(gè)截面的信息,增大
了數(shù)據(jù)
2、檢測(cè)快速,全譜顯示而非步進(jìn)掃描,普通樣品 分鐘即可
無(wú)測(cè)角儀的XRD
使用樣品振動(dòng)系統(tǒng)(樣品在檢測(cè)過(guò)程中以6000hz的頻率隨機(jī)振動(dòng)),替代傳統(tǒng)臺(tái)式XRD測(cè)角儀可以實(shí)現(xiàn)以下功能:
1、樣品制備簡(jiǎn)單:樣品無(wú)需制片、壓片、刮片,只需得到<150um的顆粒即可;2、實(shí)現(xiàn)樣品顆粒的角度的檢測(cè);3、完全檢測(cè)過(guò)程中晶體的擇優(yōu)取向;4、增加了樣品檢測(cè)量
用于全元素分析的能量色散型(ED)XRF
1、大功率射線管,配以超大面積SDD探測(cè)器;2、真正實(shí)現(xiàn)了在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行快速,準(zhǔn)確的檢測(cè);3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量;4、全元素分析,從鎂(Mg)到鈾(U)之間的所有元素; 5、7個(gè)濾光片設(shè)置,可根據(jù)元素自動(dòng)選擇濾光片;6、可選配氦氣裝置進(jìn)一步提高輕質(zhì)元素的檢測(cè)效果;
XRD-XRF聯(lián)用儀/軟件
XRD
XRD使用xpowder分析軟件,該軟件可提供包括背景扣除、平滑處理、Ka2峰剝離、多譜圖疊加等功能,可以進(jìn)行物相定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)精修處理、結(jié)晶度分析、晶粒度分析等功能。
物相定量分析可以使用RIR值及里特維德全譜擬合,實(shí)現(xiàn)復(fù)雜混合物的準(zhǔn)確定量,尤其適合于礦物的全巖成分分析。
XRF
XRF數(shù)據(jù)處理軟件提供有關(guān)材料的定性、定量信息,其中包含光譜視圖和元素峰值辨別。定量分析使用基本參數(shù)(FP)法。在實(shí)際應(yīng)用中,可以使用一系列用戶(hù)指定的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)對(duì)這些基本參數(shù)校準(zhǔn)進(jìn)行優(yōu)化(經(jīng)驗(yàn)分析)。使用離線“方法建立器”軟件包可以?xún)?yōu)化校準(zhǔn)曲線, 自行定制分析程序,并將分析程序下載到分析儀器。
軟件還提供了其它一些用于分析的性能,如:查看元素范圍、
可選峰值識(shí)別、顯示含量結(jié)果,以及樣件組的頻譜覆蓋。
XRD-XRF聯(lián)用儀/應(yīng)用領(lǐng)域
BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù),可對(duì)材料實(shí)現(xiàn)的分析檢測(cè),提供材料的元素組成、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油地質(zhì)錄井、地球化學(xué)、制藥、催化劑、法醫(yī)、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域。
礦物鑒定 XRD錄井鉆井 催化劑研發(fā) 選礦效率
礦石品位 能源勘探 腐蝕物鑒定與防腐
石油地質(zhì) 多晶型 材料成分及結(jié)構(gòu)
XRF錄井鉆井 真假藥識(shí)別 教育與科研
XRD-XRF聯(lián)用儀/配置
1、儀器標(biāo)配一個(gè)樣品系統(tǒng),檢測(cè)時(shí)只能對(duì)單個(gè)樣品進(jìn)行檢測(cè)分析。
2、可選配氦氣凈化裝置,有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測(cè)