SparkCCD 7000技術(shù)參數(shù)
SparkCCD 7000 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線陣 CCD（Charge-coupled Device）作為檢測器，實(shí)現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng)，儀器性能更穩(wěn)定，服務(wù)期限更長久。海量的譜線使分析不再受限，曲線分段跳轉(zhuǎn)，同一元素不同譜線間實(shí)現(xiàn)無縫銜接，拓展分析范圍第三元素干擾校正使元素分析更加準(zhǔn)確，可以在用戶現(xiàn)場任意增加分析基體和分析元素而無需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)方便。能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料；網(wǎng)口采集傳輸，速度快，通用性更強(qiáng)。
應(yīng)用領(lǐng)域
SparkCCD 7000 可廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè)，在汽車制造、航空航天、船舶、機(jī)電設(shè)備、工程機(jī)械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應(yīng)用。
適用基體
可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Mn 等金屬及其合金的樣品分析
SparkCCD 7000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢
?高分辨率 CCD 檢測器
?像素?cái)?shù)：3648+46 全行業(yè)
?像素尺寸： 8μm 全行業(yè)小
?精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無像差，分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)
?線分辨率 0.7407nm/mm
?像素分辨率 0.005926nm
?譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）
?潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動只需 30min，熱機(jī)啟動時(shí)間 5min
?智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氬氣，降低氬氣消耗
?60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天
?一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)
?獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間
?提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的 檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的 穩(wěn)定性
SparkCCD 7000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源（國家專利技術(shù) 專利號 ZL 2010 10118150.4）
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF（平均無故障間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無需清理
?硅膠加熱膜，加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度 ±0.1℃
?多重保溫措施，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果
?更加精準(zhǔn)
?元素含量高低曲線分段，自動匹配，分析范圍廣
?未知樣品自動匹配分析程序
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動校準(zhǔn)像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?簡潔清新、功能強(qiáng)大
?多語言版本（中、英、俄、德）
?智能冶煉配料計(jì)算
?牌號識別
?支持碳當(dāng)量等自動計(jì)算功能

CMOS直讀光譜儀的精度
就配件來說，CMOS比CCD更加便宜，CCD配件僅掌握在幾家企業(yè)手里，能夠生產(chǎn)，所以相對來說，CMOS元器件成本比之要低，但這也是有缺陷的，作為感光元件，不僅僅是直讀光譜儀市場使用它們，還有相機(jī)也會使用這些元件。
但目前，相機(jī)還是采用CCD傳感器，而CMOS傳感器則成功的占據(jù)了相機(jī)低端市場，使得相機(jī)價(jià)格從幾萬幾十萬降至幾萬甚至幾千。如果CMOS能夠精度更加高，占領(lǐng)未來的市場是必然的。
就目前市場情況，銷售CCD直讀光譜儀的廠家更多，CMOS直讀光譜儀生產(chǎn)的廠家比較少。CMOS直讀光譜儀的精度，因?yàn)槿鄙儋Y料，很多廠家的產(chǎn)品中也沒有明確標(biāo)出，所以無法得出比較中肯的評價(jià)。

所有直讀光譜儀都可以達(dá)到ppm級的精度嗎？
直讀的檢測線是小于100ppm，也就是達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后三位，0.001，檢測的元素0.01%或以上可以檢測出元素含量，可以檢測精度為萬分之一。并不是所有直讀光譜儀的檢測限都是一樣的，不同廠家不同機(jī)型所達(dá)到的精度不同。
光譜分析是根據(jù)物質(zhì)的光譜來鑒別物質(zhì)，確定它的化學(xué)組成和相對含量，是一種靈敏快速的分析方法。生產(chǎn)過程的各個(gè)環(huán)節(jié)中，為了把控質(zhì)量，保證成品符合出廠和驗(yàn)收要求，都離不開實(shí)時(shí)的化學(xué)成分檢測。
直讀光譜儀原理
直讀光譜儀原理是樣品經(jīng)過電弧或火花，每種元素發(fā)射光譜譜線強(qiáng)度正比于樣品中該元素含量，通過檢測發(fā)射光譜強(qiáng)度的能量大小來分析各元素的含量。
原子發(fā)射光譜分析所采用的原理是用電弧（或火花）的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接汽化放電激發(fā)成原子蒸汽，當(dāng)物質(zhì)受到外界能量（電能和熱能）的作用時(shí)，核外電子就躍遷到高能級，處于高能態(tài)（激發(fā)態(tài)）電子是不穩(wěn)定的，激發(fā)態(tài)原子可存在的時(shí)間約為10-8秒，它從高能態(tài)躍遷到基態(tài)，或較低能態(tài)時(shí)，把多余的能量以光的形式釋放出來。激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長，因?yàn)槊恳环N元素的基態(tài)是不相同的，激發(fā)態(tài)也是不一樣的，所以發(fā)射的光子是不一致的，也就是波長不相同的。
依據(jù)波長可以決定是哪一種元素，這就是光譜的定性分析。另一方面譜線的強(qiáng)度是由發(fā)射該譜線的光子數(shù)目來決定的，光子數(shù)目多則強(qiáng)度大，反之則弱，而光子的數(shù)目又和處于基態(tài)的。
用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的感光器件，光信號變成電信號，經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印各元素的百分含量。
光電直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高，但測定試樣中元素含量時(shí)，所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素影響，有的材料本身含量就很低。有下面幾種情況，在檢測時(shí)可能產(chǎn)生誤差。
，標(biāo)樣對光譜儀結(jié)果精度的影響，標(biāo)樣和試樣的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變。
第二，標(biāo)樣與試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。
第三，澆注的鋼樣經(jīng)過退火，淬火，回火，熱軋，鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測出的數(shù)據(jù)會有差別。
第四，熔煉過程中加入脫氧劑，去硫磷劑，混入未知合金元素，引起未知元素譜線的重疊干擾。
第五，樣品的元素分布不均勻，導(dǎo)致分析結(jié)果不同。
以上幾點(diǎn)是直讀光譜儀精度產(chǎn)生誤差的原因，若能避免，光譜儀的使用會更加方便。

自古以來，人們都有一個(gè)毛病，非要分出個(gè)子丑寅卯，非左即右。在光譜儀檢測行業(yè)，也存在著：檢測器推陳出新，更新?lián)Q代，CCD定能取代PMT，COMS完敗CCD的論調(diào)。
檢測器作為光譜儀的核心部件，其技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步往往引領(lǐng)著光譜儀的發(fā)展。電荷耦合元件(CCD)技術(shù)的應(yīng)用是光電直讀光譜儀的一個(gè)技術(shù)發(fā)展方向，采用CCD將會降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積。其次CCD的優(yōu)點(diǎn)是全譜，可以很方便地增加檢測元素的種類。此外，CCD具有良好穩(wěn)定性和較長的使用壽命，CCD型光電直讀光譜儀可以實(shí)現(xiàn)激發(fā)樣品時(shí)自動完成波長校準(zhǔn)，不再需要定期進(jìn)行校準(zhǔn)，采用CCD技術(shù)可實(shí)現(xiàn)模塊化、易于校準(zhǔn)、抗振動。
當(dāng)年P(guān)MT還是主流，儀器笨大。因?yàn)橐潦假徶脙x器的時(shí)候?qū)@方面不是很懂，初始只為了檢測鋁基材質(zhì)，然后隨著工作的深入，需要檢測鐵基的時(shí)候，廠家說加費(fèi)用，要拆機(jī)裝通道?！癊XCUSE ME？”。
現(xiàn)在不比當(dāng)年，運(yùn)用CCD技術(shù)的儀器已然占據(jù)大部分市場。但，CCD又真的能取代PMT的地位么？
和傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術(shù)相比，CCD發(fā)展較晚，作為新型檢測器件，還存在一定的局限性。首先CCD沒法如PMT那樣每個(gè)通道都做優(yōu)化。其次，CCD在應(yīng)用中為了降低暗電流需要降溫，這與光學(xué)系統(tǒng)需要恒溫相矛盾。CCD目前還無法應(yīng)用一些高速采樣技術(shù)，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT，其次如何保證多塊CCD的一致性，以及處理多塊CCD之間的接收空白區(qū)，也是一個(gè)問題。此外，當(dāng)前CCD技術(shù)已經(jīng)可以滿足中端分析應(yīng)用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長期精度方面和PMT還是有差距。