基本功能：ST2258B-F01型薄膜方阻直線四探針探頭，直線2+2+2 mm針距,有球形尖鍍金磷銅合金探針，配以四探針儀器和測試臺，用以測試柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。

基本組成：成套探頭有可拆換式探針、探針座、手持式外套、測試臺連接單元，儀器連接線纜等部件組成。

配套與兼容：本探頭兼容本公司所有四探針儀器和四探針測試臺，如下表主要型號，配以本公司測試臺，也可兼容其他大部分廠家四探針儀器。

        ST2258B-F01型薄膜方阻直線四探針探頭適用產(chǎn)品部分型號及名稱列表

二、主要技術(shù)參數(shù)及說明

    1可測片料塊料或棒料等。最小樣品尺寸3mm×10mm，最大平面尺寸和厚度，由所配測試臺決定，手持探頭方式不限。

    2 .1探  針  間  距：直線2+2+2 mm針距。

    2.2探針機械游移率： ±0.5%。

    2.3探          針：鍍金磷銅合金，Φ0.75mm。

    2.4壓          力： 0～500g可調(diào),額定壓力約400g。

    3 探針為可快捷拆換型，方便生產(chǎn)線頻繁使用。

    4本公司可為顧客長期代購探針配件，價格優(yōu)惠，服務(wù)周到。

三、使用方式，

   請參照各配套測試臺使用方式。

四、詳情請登陸蘇州晶格電子有限公司官方網(wǎng)站http://www.jgdz.com.cn  或

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